Elektronenmikroskopie (EM unit)
Forschungszentrum für Elektronenmikroskopie (FZEM)
- Fabeckstraße 36A, 14195 Berlin, Tel. 838 53908 (TEM), 838 55348 (REM) |
Kontakt:
Dr. Kai Ludwig (kai.ludwig@fzem.fu-berlin.de) - TEM
Anke Schindler (anke.schindler@fu-berlin.de) - REM
web: https://fzem.fu-berlin.de
Methoden:
TEM - Transmissionselektronenmikroskopie, cTEM - konventionelle TEM, cryoTEM - kryogene TEM, EPU/SPA - automatisierte Datenakquise, eTOMO - Elektronentomographie, STEM - Rastertransmissionselektronenmikroskopie, microED - Mikroelektronendiffraktion, SEM - Rasterelektronenmikroskopie.
Geräte:
Technai F20 (TEM, 200 kV, FEG, Side-Entry), nur im Service nutzbar
Talos L120C (TEM, 120 kV, Thermionische Kathode, Side-Entry, cryo Ausstattung), direkt buchbar, assistiert und nicht assisistiert (Training notwendig)
Talos Arctica (TEM, 200 kV, x-FEG, 12 fach Probenwechsler), im Service nutzbar, nicht assisistiert (Training notwendig)
Titan Krios (TEM, STEM, 300 kV, x-FEG, 12 fach Probenwechsler), im Service nutzbar
SU 8030 (REM, 30kV), direkt buchbar, assistiert und nicht assisistiert (Training notwendig)
Services:
TEM measurements (Einzelmessungen oder Messreihen), jeder user
Register for Single Particle Analysis (SPA) - SFAB, nur SPA Gruppenmitglieder,
SPA data acquisition - Titan Krios, nur für SPA user
Datenspeicherung:
Die Datenspeicherung erfolgt auf dem BCPstorage Netzwerkspeicher (BCPFS).
Buchungsvoraussetzungen:
TEM - Für nicht assistierte Messungen ist eine einmalige Anmeldung für TEM-Messungen (Register with Electron Microscopy) mit Freigabe durch Arbeitsgruppenleiter:in sowie Training bzw. der Nachweis der Befähigung zur Messung am Gerät erforderlich.
Nicht assistierte TEM-Messungen können durch entsprechende key-User der Arbeitsgruppen durchgeführt werden.
SEM - Für assistierte und nicht assistierte Messungen am SEM ist eine einmalige Anmeldung für SEM-Messungen (Register with Scanning Electron Microscopy) mit Freigabe durch Arbeitsgruppenleiter:in erforderlich.
Nicht assistierte SEM-Messungen sind möglich, Training ist erforderlich.
SPA - Für Messungen ist ein einmalige Registrierung (Register for Single Particle Analysis) und zusätzlich die separate Anmeldung jeder Einzelmessung (SPA data aquisition - Titan Krios) jeweils mit Freigabe durch Arbeitsgruppenleiter:in erforderlich. Die Arbeitsgruppe muss zunächst vom Gruppenleiter für den SPA workflow angemeldet worden sein (Participate in SPA data acquisition - SFAB).
Weitere Informationen zum SPA workflow stehen auf den FZEM Seiten.
Schlagwörter
- cryoTEM - kryogene TEM
- cTEM - konventionelle TEM
- EPU - automatisierte Datenakquise (TEM)
- eTOMO - Elektronentomographie
- microED - Mikroelektronendiffraktion
- REM - Rasterelektronenmikroskopie
- SPA - Einzelpertikel Analyse (TEM)
- STEM - Rastertransmissionselektronenmikroskopie
- TEM - Transmissionselektronenmikroskopie